常規(guī)可見-近紅外波段橢偏儀依靠短波信號(hào)解析薄膜幾何尺寸,難以獲取分子化學(xué)鍵、晶格振動(dòng)相關(guān)信息。
紅外橢偏儀將測(cè)量波段拓展至紅外區(qū)間,結(jié)合橢偏偏振測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì),同步實(shí)現(xiàn)薄膜厚度測(cè)量與材料化學(xué)特征解析,成為有機(jī)高分子薄膜、半導(dǎo)體外延層、復(fù)合介質(zhì)膜研究的重要表征工具。
紅外波段光線和材料的相互作用機(jī)制與可見光存在明顯區(qū)別。可見光區(qū)間信號(hào)更多受電子躍遷影響,紅外光譜響應(yīng)主要來(lái)自分子振動(dòng)、聲子振蕩、自由載流子吸收。同一套薄膜樣品,在兩個(gè)波段下表現(xiàn)出不同的光學(xué)特征。可見光橢偏適合精準(zhǔn)求解超薄介質(zhì)層厚度,紅外橢偏更擅長(zhǎng)區(qū)分材料組分差異、識(shí)別界面之間的擴(kuò)散反應(yīng)層,實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)與成分信息同步獲取。
有機(jī)與高分子薄膜是紅外橢偏儀典型應(yīng)用方向。各類聚合物薄膜、自組裝有機(jī)涂層、光電有機(jī)功能層內(nèi)部存在大量特征官能團(tuán),在特定紅外波長(zhǎng)位置出現(xiàn)特征吸收。紅外橢偏采集全光譜偏振信號(hào),通過(guò)特征吸收峰位置與形態(tài)變化,判斷薄膜內(nèi)部化學(xué)鍵變化,同時(shí)計(jì)算薄膜厚度。在材料老化實(shí)驗(yàn)、界面擴(kuò)散研究中,可以持續(xù)觀測(cè)膜層厚度演變與化學(xué)結(jié)構(gòu)變化之間的關(guān)聯(lián)。
半導(dǎo)體領(lǐng)域同樣存在大量紅外橢偏應(yīng)用場(chǎng)景。重?fù)诫s半導(dǎo)體材料內(nèi)部自由載流子會(huì)在紅外區(qū)間產(chǎn)生顯著光學(xué)響應(yīng),利用這一特性,紅外橢偏能夠分析外延薄膜摻雜濃度分布,識(shí)別基底與外延層之間形成的過(guò)渡界面層。很多外延膜厚度達(dá)到微米級(jí)別,可見光容易穿透樣品,有效信號(hào)微弱,紅外光線擁有更強(qiáng)的介質(zhì)層穿透能力,更容易獲取多層外延結(jié)構(gòu)完整信號(hào)。
紅外橢偏儀主要分為光柵分光架構(gòu)與傅里葉變換架構(gòu)兩類。光柵式系統(tǒng)波長(zhǎng)分段采集,信號(hào)信噪比穩(wěn)定;傅里葉變換紅外橢偏掃描速度更快,完整光譜采集耗時(shí)更短。兩種架構(gòu)沒(méi)有絕對(duì)優(yōu)劣,光柵機(jī)型適合單點(diǎn)高精度細(xì)致掃描,傅里葉變換機(jī)型適合大批量樣品快速篩查。選型時(shí)依據(jù)單次測(cè)試樣品數(shù)量、光譜分辨率需求進(jìn)行區(qū)分。
紅外光路對(duì)環(huán)境水汽、二氧化碳十分敏感,空氣中相關(guān)組分產(chǎn)生紅外吸收,會(huì)疊加到樣品光譜信號(hào)中,形成干擾。穩(wěn)定的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境、合理的吹掃方案,能夠降低氣體吸收帶來(lái)的數(shù)據(jù)畸變。樣品表面吸附水汽同樣會(huì)影響測(cè)量結(jié)果,對(duì)于親水性有機(jī)薄膜,測(cè)試前需要設(shè)置合適的樣品預(yù)處理流程,減少表面吸附層干擾。
很多研究人員會(huì)搭配可見光橢偏儀與紅外橢偏儀聯(lián)合測(cè)試。可見光波段數(shù)據(jù)約束薄膜幾何厚度,紅外光譜數(shù)據(jù)確定材料光學(xué)模型與組分信息,兩套數(shù)據(jù)相互約束,大幅降低模型擬合出現(xiàn)多解的概率。單一波段測(cè)量時(shí)常會(huì)出現(xiàn)多種參數(shù)組合都可以匹配光譜曲線,多波段聯(lián)合表征可以有效縮小解空間,提升測(cè)量結(jié)果可信度。
隨著有機(jī)光電器件、寬禁帶半導(dǎo)體材料研發(fā)進(jìn)度加快,兼具結(jié)構(gòu)尺寸與化學(xué)組分同步表征能力的檢測(cè)手段需求持續(xù)增加。紅外橢偏技術(shù)打通薄膜厚度表征與分子光譜分析之間的壁壘,實(shí)現(xiàn)非破壞一體化檢測(cè),未來(lái)會(huì)在新材料機(jī)理研究、鍍膜工藝優(yōu)化領(lǐng)域得到更加廣泛的使用。